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ICT測(cè)試治具常見問題
日期：2025-05-09 20:23
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摘要：
在使用ICT測(cè)試治具時(shí)很多人會(huì)因?yàn)椴患?xì)心遇到一些問題，下面為大家總結(jié)幾點(diǎn)ICT測(cè)試治具常見問題，并提出相應(yīng)解決方法。
故障問題：ICT測(cè)試治具孔測(cè)點(diǎn)鉆孔鉆大導(dǎo)致探針接觸不到焊環(huán)出現(xiàn)假開路。
對(duì)策：若只有少數(shù)的幾個(gè)，可用實(shí)物塞住原來的鉆孔，再手工鉆出合適的孔徑。
此方法同樣適用于客戶資料出現(xiàn)變更而少數(shù)測(cè)點(diǎn)變更，可免去重新制作。
故障問題：ICT測(cè)試治具測(cè)試點(diǎn)數(shù)太多測(cè)試機(jī)無法測(cè)試。
對(duì)策：分網(wǎng)絡(luò)做兩個(gè)夾具測(cè)兩次。
故障問題：調(diào)試模具時(shí)發(fā)現(xiàn)漏選點(diǎn)。
對(duì)策：用一塊板或菲林拍在模具上，手工加鉆漏選孔，加繞線到網(wǎng)絡(luò)里重新讀板調(diào)試。
若漏選在ICT測(cè)試治具密集孔處則這種方法難度很高。
選擇ICT測(cè)試探針選對(duì)夾具成本關(guān)系*大，目前測(cè)試探針分國(guó)產(chǎn)、臺(tái)灣香港、進(jìn)口三種。測(cè)試探針的質(zhì)量主要體現(xiàn)在材質(zhì)、鍍層、彈簧、套管的直徑精度及制作工藝，目前包括國(guó)內(nèi)的產(chǎn)品其材質(zhì)很多用進(jìn)口材質(zhì)，所以除非是偷工減料一般探針材質(zhì)問題不是很大，針及套管的直徑精度方面國(guó)內(nèi)與臺(tái)灣香港的產(chǎn)品差不多，進(jìn)口稍好但一般影響不大，彈簧及鍍層的質(zhì)量這方面進(jìn)口產(chǎn)品比國(guó)內(nèi)要好很多，原因主要是工藝水平上的差別，國(guó)產(chǎn)的探針鍍層抗磨損較差鍍層容易脫落。
ICT測(cè)試治具即 In Circui Test測(cè)試治具的縮寫，就是在線檢測(cè)、測(cè)試治具。是對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件**的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備。它主要用于檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況，具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)，ICT測(cè)試治具可進(jìn)行模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能測(cè)試，故障覆蓋率高，對(duì)每種單板需制作專用的針床，這個(gè)針床在工業(yè)生產(chǎn)上就叫它ICT測(cè)試治具。