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文章詳情
ICT分為三大部份
日期：2025-05-09 22:34
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摘要：
▲Testhead :ICT測(cè)試機(jī)臺(tái)部份
▲Computer :計(jì)算機(jī)部份
▲Support Bay:電源箱部份
測(cè)試機(jī)臺(tái)架有測(cè)試治具 , 由氣壓(air)閥把治具鎖在機(jī)臺(tái)上 ; 測(cè)試時(shí)由使用真空( Vacuum )抽取治具內(nèi)的空氣 ; 使治具上下板的測(cè)試針,扎到板上的測(cè)試點(diǎn)上 ; 由機(jī)臺(tái)內(nèi)的控制卡在控制測(cè)試 .
其測(cè)試功能有如使用數(shù)千個(gè)三用電表在測(cè)試，但不同處在于使用OP Amp反相放大電路來量測(cè)，除open、short testing外并且可測(cè)試電路板上單一零件；另外可以由電源箱提供電源, 上電至待測(cè)板上 ; 進(jìn)行數(shù)字測(cè)試 .
程序的測(cè)試順序 :
( 一般測(cè)試分為此幾大項(xiàng) , 講解重點(diǎn) : 測(cè)試順序, 測(cè)試內(nèi)容 )
▲ Pins test: 測(cè)試探針接觸待測(cè)板是否良好
▲ Shorts test: 測(cè)試open及shorts
▲ Unpower analog: 不上電的模擬組件測(cè)試,像拿電表量組件一樣
▲ Testjet: 利用電容原理,測(cè)試組件或connect開路
▲ Auto inster: 用來測(cè)試無法使用Testjet 測(cè)試的connect,例如:橫向開口connect
▲ On power: 由power supply供電至待測(cè)板
▲ Digital test: 數(shù)字組件或IC組件測(cè)試
▲ Analog function: 一些必須上電測(cè)試的大電壓模擬