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TR518 ict測(cè)試程序文件說明
日期：2025-07-02 03:01
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摘要：
TR518 ict測(cè)試程序文件說明
關(guān)鍵詞：ict,tr-518fe,tr-518fr,tr-518f,德律ICT，TR5001，
關(guān)鍵詞：ict,tr-518fe,tr-518fr,tr-518f,德律ICT，TR5001，
DAT：測(cè)試資料文件（電路板的零件測(cè)試數(shù)據(jù)文件）
SPG：短路點(diǎn)資料文件（電路執(zhí)行短路學(xué)習(xí)時(shí)所得到的短路點(diǎn)資料文件）
SCP：系統(tǒng)控制文件（電路板得測(cè)試參數(shù)檔。請(qǐng)勿修改此檔案）
ICN：IC資料文件（電路板進(jìn)行IC保護(hù)二極管學(xué)習(xí)時(shí)所輸入的IC名稱，腳位數(shù)，電源腳+V與接地腳—V等資料文件）
ICP：IC測(cè)試針號(hào)碼文件（電路板進(jìn)行IC保護(hù)二極管學(xué)習(xí)時(shí)所輸入每個(gè)IC上每支IC腳位所對(duì)應(yīng)的測(cè)試針號(hào)碼檔案）
SRS：測(cè)試統(tǒng)計(jì)資料文件（當(dāng)日測(cè)試數(shù)，良品數(shù)，**品數(shù)等統(tǒng)計(jì)資料）
HST：測(cè)試統(tǒng)計(jì)資料文件（電路板得測(cè)試統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，記錄當(dāng)天每個(gè)測(cè)試步驟的測(cè)試分
布）
STA：月報(bào)表文件（儲(chǔ)存測(cè)試數(shù)、良品數(shù)、開路**數(shù)、短路**數(shù)、零件**數(shù)等統(tǒng)計(jì)資料）
RPT：測(cè)試報(bào)表文件（電路板的測(cè)試統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，記錄當(dāng)天的測(cè)試數(shù)、良品數(shù)、開路**數(shù)、短路**數(shù)、零件**數(shù)等統(tǒng)計(jì)資料。及每個(gè)測(cè)試步驟的測(cè)試分布比率）
TPI：測(cè)試點(diǎn)資料文件(在系統(tǒng)經(jīng)測(cè)試點(diǎn)數(shù)據(jù)自動(dòng)學(xué)習(xí)后，數(shù)據(jù)即儲(chǔ)存于本文件內(nèi))
TV：測(cè)試值檔(每個(gè)步驟的量測(cè)值數(shù)據(jù)文件)
BAK：測(cè)試資料文件的備份文件(測(cè)試數(shù)據(jù)文件進(jìn)行修改時(shí)，系統(tǒng)會(huì)將舊的測(cè)試數(shù)據(jù)文件備份)
TR518 ict測(cè)試程序文件說明