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邊界掃描可以測(cè)試哪些東西
日期：2025-06-30 16:13
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摘要：
很多Agilent 3070的用戶都有一個(gè)問題——到底Agilent 3070的邊界掃描到底測(cè)量哪些東西？
今天，我就來為大家分享一下。
Agilent的邊界掃描測(cè)試主要共分為：
1. 單個(gè)的邊界掃描元件測(cè)試。針對(duì)單顆的邊界掃描元件進(jìn)行邊界掃描測(cè)試。
2. 1149.1邊界掃描鏈（Boundary Scan Chain）測(cè)試。這中間又分為：
1）Interconnect測(cè)試：測(cè)試邊界掃描鏈中間沒有測(cè)試點(diǎn)的點(diǎn)的開短路。
2）Bus Wire測(cè)試：測(cè)試邊界掃描鏈中間總線（Bus）上的點(diǎn)的開路。
3）Connect測(cè)試：測(cè)試邊界掃描鏈上有測(cè)試點(diǎn)的點(diǎn)的開路。
4）Powered Short測(cè)試：測(cè)試邊界掃描鏈上有測(cè)試點(diǎn)同沒有測(cè)試點(diǎn)之間的潛在短路。
3. Silicon Nail測(cè)試。通過邊界元件來測(cè)試非邊界掃描元件。
4.1149.6測(cè)試。測(cè)試1149.6元件之間的開短路（同1149.1測(cè)試有些類似，不過所測(cè)的點(diǎn)都是符合1149.6標(biāo)準(zhǔn)的點(diǎn)）和兩個(gè)1149.6元件之間的電容的短路。
5. CoverExtend測(cè)試。通過邊界掃描元件的TAP管腳發(fā)送信號(hào)，通過VTEP在連接器上來量測(cè)，檢查邊界掃描元件到連接器之間的開短路現(xiàn)象的測(cè)試。
6. BIST測(cè)試。通過邊界掃描的TAP管腳執(zhí)行元件內(nèi)建的自檢程序的測(cè)試。
7. PLD ISP。通過邊界掃描的TAP管腳對(duì)ASIC元件燒錄資料。
今天，我就來為大家分享一下。
Agilent的邊界掃描測(cè)試主要共分為：
1. 單個(gè)的邊界掃描元件測(cè)試。針對(duì)單顆的邊界掃描元件進(jìn)行邊界掃描測(cè)試。
2. 1149.1邊界掃描鏈（Boundary Scan Chain）測(cè)試。這中間又分為：
1）Interconnect測(cè)試：測(cè)試邊界掃描鏈中間沒有測(cè)試點(diǎn)的點(diǎn)的開短路。
2）Bus Wire測(cè)試：測(cè)試邊界掃描鏈中間總線（Bus）上的點(diǎn)的開路。
3）Connect測(cè)試：測(cè)試邊界掃描鏈上有測(cè)試點(diǎn)的點(diǎn)的開路。
4）Powered Short測(cè)試：測(cè)試邊界掃描鏈上有測(cè)試點(diǎn)同沒有測(cè)試點(diǎn)之間的潛在短路。
3. Silicon Nail測(cè)試。通過邊界元件來測(cè)試非邊界掃描元件。
4.1149.6測(cè)試。測(cè)試1149.6元件之間的開短路（同1149.1測(cè)試有些類似，不過所測(cè)的點(diǎn)都是符合1149.6標(biāo)準(zhǔn)的點(diǎn)）和兩個(gè)1149.6元件之間的電容的短路。
5. CoverExtend測(cè)試。通過邊界掃描元件的TAP管腳發(fā)送信號(hào)，通過VTEP在連接器上來量測(cè)，檢查邊界掃描元件到連接器之間的開短路現(xiàn)象的測(cè)試。
6. BIST測(cè)試。通過邊界掃描的TAP管腳執(zhí)行元件內(nèi)建的自檢程序的測(cè)試。
7. PLD ISP。通過邊界掃描的TAP管腳對(duì)ASIC元件燒錄資料。