Agilent Medalist i3070  5 系統(tǒng)不僅提供在線測試能力而且還具有其他測試功能，可對 PCBA 進行*廣泛的測試，因而能夠滿足大多數(shù)主流電子產(chǎn)品制造商的需求。對于那些需要更少節(jié)點測試功能的客戶來說，i3070 雙模塊選件是理想的選擇。

所有Agilent Medalist i3070  系列 5 測試系統(tǒng)均加入了新的基礎(chǔ)架構(gòu)，以便更加靈活地添加、控制和連接外部電子設(shè)備或儀器。該系統(tǒng)允許將外部電子設(shè)備插入測試機臺，如同該設(shè)備已經(jīng)集成到系統(tǒng)中。外部電子設(shè)備可以是功能性測試電路，用于為 ICT 提供額外的功能測試范圍，或者為被測單元提供額外的激勵，以提高測試覆蓋率。外部電子設(shè)備控制、測試順序和測試結(jié)果仍通過 BT-BASIC 測試程序來實現(xiàn)，由用戶熟悉的測試機臺的電腦實施。

為了支持增強的性能，PCBA 如今擁有更高的電流要求，因此可通過測試儀向被測單元送入 10 A 的電流。電源端口也可經(jīng)過多路復(fù)用處理，所以一個電源可以*多向一個面板中不同的 6 個電路板供電，每個電源通道都由一個繼電器控制，以保護被測單元。

i3070 系列 5 測試系統(tǒng)包含了一個新的模擬激勵和測量單元（ASRU），可將模擬測試速度提高 20%，進而提高產(chǎn)量。

此前版本中的受限接入測試工具也包含在該測試系統(tǒng)中。

如果您的大型電路板需要速度更快，測試覆蓋率更高的測試，那么，E9903E i307x 系列 5 系統(tǒng)將是*佳選擇。

所有 Agilent Medalist i3070  測試系統(tǒng)都支持多路復(fù)用（Mux）pin卡和非多路復(fù)用（UnMux）pin卡。這樣，在您使用該系統(tǒng)時就會有更多的靈活性。